數字式高精度測量超聲波腐蝕厚度測厚儀

產品名稱: 數字式高精度測量超聲波腐蝕厚度測厚儀

產品型號: MX1-DL

產品特點: 數字式高精度測量超聲波腐蝕厚度測厚儀
采用FPGA技術的100Hz數字信號處理器平臺設計，提供精確的測量結果。
1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率，確保了清晰的顯示效果。
手動或自動增益控制，根據測量模式選擇(50dB增益范圍)，以適應不同的測量需求。
內置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)，提高了測量的準確性。

數字式高精度測量超聲波腐蝕厚度測厚儀 的詳細介紹

數字式高精度測量超聲波腐蝕厚度測厚儀

美國達高特Dakota的高精度分析用超聲波腐蝕厚度測厚儀MX1-DL具備以下特點：采用FPGA技術的100Hz數字信號處理器平臺設計，1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率。手動或自動增益控制，根據測量模式選擇(50dB增益范圍)，內置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)，A-掃描(射頻、整流)、B-掃描和大數字顯示方式，兩個獨立的門，脈沖-回波(P-E)測量模式和回波-回波(E-E)測量模式，雙晶探頭，內置4GB SD卡，通過USB Type-C連接到計算機。顯示速度為每秒10到200個讀數，能夠快速獲取測量結果。

復制

重試

美國達高特Dakota的高精度分析用超聲波腐蝕厚度測厚儀MX1-DL具備以下特點：采用FPGA技術的100Hz數字信號處理器平臺設計，1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率。手動或自動增益控制，根據測量模式選擇(50dB增益范圍)，內置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)，A-掃描(射頻、整流)、B-掃描和大數字顯示方式，兩個獨立的門，脈沖-回波(P-E)測量模式和回波-回波(E-E)測量模式，雙晶探頭，內置4GB SD卡，通過USB Type-C連接到計算機。顯示速度為每秒10到200個讀數，能夠快速獲取測量結果。

復制

重試

美國達高特Dakota的高精度分析用超聲波腐蝕厚度測厚儀MX1-DL具備以下特點：采用FPGA技術的100Hz數字信號處理器平臺設計，1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率。手動或自動增益控制，根據測量模式選擇(50dB增益范圍)，內置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)，A-掃描(射頻、整流)、B-掃描和大數字顯示方式，兩個獨立的門，脈沖-回波(P-E)測量模式和回波-回波(E-E)測量模式，雙晶探頭，內置4GB SD卡，通過USB Type-C連接到計算機。顯示速度為每秒10到200個讀數，能夠快速獲取測量結果。

復制

重試

美國達高特Dakota的高精度分析用超聲波腐蝕厚度測厚儀MX1-DL具備以下特點：采用FPGA技術的100Hz數字信號處理器平臺設計，1/8英寸VGA灰色顯示，240x160象素屏幕，25Hz刷新頻率。手動或自動增益控制，根據測量模式選擇(50dB增益范圍)，內置于探頭類型中的線性時間相關增益(TDG)，A-掃描(射頻、整流)、B-掃描和大數字顯示方式，兩個獨立的門，脈沖-回波(P-E)測量模式和回波-回波(E-E)測量模式，雙晶探頭，內置4GB SD卡，通過USB Type-C連接到計算機。

顯示速度為每秒10到200個讀數，能夠快速獲取測量結果。

復制

重試

產品留言