瑞典波通perten實(shí)驗(yàn)室用谷物等樣品粉碎磨 LM 3100

簡(jiǎn)便快速的樣品準(zhǔn)備

不同的分析需要不同方式的樣品制備，因此準(zhǔn)確選擇待測(cè)樣品的制備方式很重要。波通公司為您提供兩款實(shí)驗(yàn)室粉碎磨，一款錘式粉碎磨和一款盤(pán)式粉碎磨。盤(pán)式粉碎磨用于水分，硬度等檢測(cè)時(shí)研磨樣品，錘式粉碎磨適用于其它多數(shù)應(yīng)用，例如降落數(shù)值、面筋指數(shù)和近紅外分析等。

特征及優(yōu)點(diǎn)

降落數(shù)值法和面筋指數(shù)法 - *認(rèn)證用于降落數(shù)值法和面筋指數(shù)法檢測(cè)時(shí)的樣品制備磨

樣品均勻性高 - 提高了分析結(jié)果的重復(fù)性和準(zhǔn)確性。 堅(jiān)實(shí)耐用 - 使用壽命長(zhǎng)，費(fèi)用低

適合于谷物、油料作物和其他 - 多功能型粉碎磨，可以研磨多種樣品

型號(hào)和配件

樣品的制備方式取決于分析的需要，因此為正在進(jìn)行的分析選擇正確的制備方式很重要。波通公司提供兩種類(lèi)型的實(shí)驗(yàn)室粉碎磨-錘式粉碎磨和盤(pán)式粉碎磨。盤(pán)式粉碎磨適用于檢測(cè)研磨的樣品的水分，而錘式粉碎磨適用于大多數(shù)其它的應(yīng)用，例如降落數(shù)值、面筋和近紅外分析檢測(cè)等。關(guān)于盤(pán)式和錘式粉碎磨的更多資料請(qǐng)查看“技術(shù)"頁(yè)的詳細(xì)介紹。

我們希望你可以選擇適合您需要的型號(hào)，因此建議您使用“型號(hào)選擇指南"。您隨時(shí)可以與當(dāng)?shù)夭ㄍü镜姆止净蜣k事處咨詢(xún)您的需求。

LM 3100實(shí)驗(yàn)室粉碎磨

LM3100型實(shí)驗(yàn)室粉碎磨是一種錘式旋風(fēng)磨，具有堅(jiān)固的金屬構(gòu)造，帶有隔音設(shè)計(jì)。其粉碎樣品適用于降落數(shù)值、面筋質(zhì)量數(shù)量測(cè)定和近紅外分析。儀器帶有旋風(fēng)的樣品出口便于樣品的收集，同時(shí)空氣的流動(dòng)作用使磨體自動(dòng)清潔，不需要清理可直接粉碎下一個(gè)樣品。

LM 120實(shí)驗(yàn)室粉碎磨

LM120型實(shí)驗(yàn)室粉碎磨是一種錘式粉碎磨，磨體是堅(jiān)固的金屬構(gòu)造。樣品收集到尼龍袋里，應(yīng)用范圍同LM 3100.

LM 3310實(shí)驗(yàn)室粉碎磨

LM3310型實(shí)驗(yàn)室粉碎磨是一種盤(pán)式粉碎磨，于谷物水分的分析，被*批準(zhǔn)用于烘箱法和近紅外方法檢測(cè)水分。LM3310符合AACC標(biāo)準(zhǔn)方法，標(biāo)準(zhǔn)號(hào)No. 55-30用來(lái)以顆粒度指數(shù)法（PSI）測(cè)定小麥的硬度。

LM 3610實(shí)驗(yàn)室粉碎磨

LM 3610型實(shí)驗(yàn)室粉碎磨是另一款盤(pán)式粉碎磨，磨盤(pán)比LM3310的磨盤(pán)大，也被批準(zhǔn)用于烘箱和近紅外法測(cè)定水分，由于磨盤(pán)大，所以適合研磨大顆粒樣品，例如飼料原料等。

配件

實(shí)驗(yàn)室粉碎磨自動(dòng)喂料器

喂料器是裝有馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的橡皮葉輪，可以恒定的速度均勻進(jìn)樣，提高了整個(gè)過(guò)程的研磨效果，減少馬達(dá)張力引起的進(jìn)料過(guò)多的不足，有助于改善高水分谷物，有殼谷物，例如大麥、燕麥和稻谷的研磨以及粗物料的喂料。

瑞典波通perten實(shí)驗(yàn)室用谷物等樣品粉碎磨 LM 3100

技術(shù)特點(diǎn)

式實(shí)驗(yàn)室粉碎磨帶有快速旋轉(zhuǎn)的鋼錘，外圍帶有篩網(wǎng)使樣品篩離研磨室。選擇不同的篩網(wǎng)，分離的樣品顆粒大小不同。錘式粉碎磨一般用于研磨出精細(xì)均勻的樣品。波通儀器公司生產(chǎn)的錘式磨研磨量可達(dá)300g，適合降落數(shù)值分析檢測(cè)使用。由于研磨過(guò)程中發(fā)熱以及研磨室中高速空氣流使其不適合于谷物水分分析。

盤(pán)式實(shí)驗(yàn)室粉碎磨
盤(pán)式實(shí)驗(yàn)室粉碎磨通過(guò)帶有齒輪的靜態(tài)金屬盤(pán)和旋轉(zhuǎn)的金屬盤(pán)的相對(duì)運(yùn)動(dòng)研磨樣品。由于這種粉碎磨研磨樣品時(shí)沒(méi)有水分損失，因此主要用于谷物的水分分析。研磨的樣品大小可以通過(guò)調(diào)節(jié)靜態(tài)和旋轉(zhuǎn)的金屬盤(pán)之間的距離來(lái)控制。同時(shí)配備不同的盤(pán)可以選擇。