日本densoku渦電流式膜厚計 DS-110

日本densoku渦電流式膜厚計 DS-110

渦電流式膜厚計 DS-110

水晶発振により高精度
短い測定時間で曲面?球面対での測定も可能

?測定値表示がデジタル式で読み取りやすい
?スイッチを入れると同時に測定開始、測定時間も1秒以內
?水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度
?非破壊だから全數検査が可能
?直読式だから換算不要

渦電流式膜厚計 DS-110 の特長

読み取りやすいデジタル式

測定値表示がデジタル式で読み取りやすいです。

すぐに測定が可能

スイッチを入れると同時に測定が可能。測定時間も1秒以內です。

高安定（±1％）高精度

水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度。

全數検査が可能

非破壊ですので全數検査ができます。

換算の必要なし

直読式で換算の必要がありません。

多様な測定に対応

金屬上の皮膜、めっき、塗裝、樹脂等の測定ができます。（例：アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗裝）

1000データまで保存可能

1本の検査線で1000データが保存可能です。

非金屬上の金屬皮膜も測定

非金屬上の金屬皮膜（例　プラスチック上のめっき）の測定ができます。

標準で4種類、大70種類の膜厚測定が可能

スイッチを切り替えることで、4種類までの膜厚測定ができます。また、メーカで検査線を入れ替えることで、70種類以上の膜厚測定ができます。

曲面、球面體、パイプの內部でも測定可能

曲面、球面體でも測定可能です。また、パイプ等內面も測定できます（φ12.7mm以上）。

プリントアウト機能

測定データと統計処理値をプリントアウトできます。

測定原理

高周波電流を流したプローブ（測定子コイル）を金屬に接近させると、金屬表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強さ、周波數、その金屬の導電性、厚さ、形狀等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。 そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、カーブ補正を行って、デジタル値で表示します。このため膜厚値を直接數字で読み取ることができます。カーブ補正はマイクロコンピュータによる計算で行っています。このため高精度で、高安定です。

渦電流式膜厚計 DS-110 の仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。

渦電流式膜厚計 DS-110 のプローブ仕様